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MWK45-4美國(guó)GE超聲波探傷儀橫波斜探頭的詳細(xì)資料

美國(guó)GE超聲波探傷儀橫波斜探頭MWK45-4  原德國(guó)KK

美國(guó)GE收購(gòu)了德國(guó)KK全線產(chǎn)品

GE Inspection Technologies的應(yīng)用程序中心為無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用程序的用戶提供廣泛的服務(wù)。

我們的使命是匯聚來(lái)自多個(gè)行業(yè)和模式的全球知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)，以幫助客戶迅速解決他們的檢查應(yīng)用問(wèn)題。

憑借很好的業(yè)績(jī)記錄，我們經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師，技術(shù)人員和專家是客戶的重要資產(chǎn)。他們的經(jīng)驗(yàn)豐富，涵蓋了許多NDT模式和許多行業(yè)領(lǐng)域-從射線照相技術(shù)的發(fā)展定制渦流設(shè)計(jì)的解決方案，用于檢查生產(chǎn)車間的航空航天零件用于電力，石油，天然氣和汽車行業(yè)的現(xiàn)場(chǎng)檢查的探頭。

新材料，制造工藝和連接技術(shù)通常需要定制的配件，專為特定應(yīng)用而設(shè)計(jì)。我們提供各種特殊應(yīng)用的傳感器，其中一些顯示在這些頁(yè)面。我們的特殊換能器團(tuán)隊(duì)已準(zhǔn)備就緒，可以快速，有效地解決新的應(yīng)用問(wèn)題。

接觸法探頭

直射線---單晶

•被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面

•接觸面或平或曲

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)

•透透厚部件

•逐步塊改善提高近場(chǎng)分辨率

•需要聚合層，一般為凝膠，油類，漿糊

•通常用于手動(dòng)檢測(cè)

直探頭---雙晶

•接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂

直于表面的聲束探測(cè)

•近表面分辨率好，用于較薄部件

•需要聚合層，一般為凝膠，油類，漿糊

•通常用于手動(dòng)檢測(cè)

斜探頭

•芯片安裝在內(nèi)置的或可更換的斜塊上

•利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播

•大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探針通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波

•有所傾斜的缺陷的檢測(cè)，如焊縫

•有單晶探頭和雙晶探頭

•需要聚合層，一般為凝膠，油類，漿糊

•有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)2個(gè)換能器選擇標(biāo)準(zhǔn)和性能

接觸式和水浸式接觸法探頭

直射線---單晶

•被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面

•接觸面或平或曲

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)

•透透厚部件

•逐步塊改善提高近場(chǎng)分辨率

•需要聚合層，一般為凝膠，油類，漿糊

•通常用于手動(dòng)檢測(cè)

直探頭---雙晶

•接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)

•近表面分辨率好，用于較薄部件

•需要聚合層，一般為凝膠，油類，漿糊

•通常用于手動(dòng)檢測(cè)

斜探頭

•芯片安裝在內(nèi)置的或可更換的斜塊上

•利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播

•大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探針通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波

•有所傾斜的缺陷的檢測(cè)，如焊縫

•有單晶探頭和雙晶探頭

•需要聚合層，一般為凝膠，油類，漿糊

•有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)2個(gè)換能器選擇標(biāo)準(zhǔn)和性能